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                Hisilicon半导体光电检测设备隔振方事案

                作者:至一科技 日期:2021-01-02 点击:1489
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                Hisilicon半导体光电检测设备隔振方案

                SOTOMD300-M被动隔振系统


                背景:半导体光电测试应用

                使用单位:深圳市海思半导体有限公司

                地点:广东省深圳市龙岗区坂田华为基地F区

                设备:Hisilicon半导体光电检测设备

                隔振方案:SOTOMD300-M


                半导体隔振系统.jpgSOTOMD被动隔振系统.jpg
                海思半导体设备SOTOMD隔振台.jpg
                Hisilicon半导体光电检测设备SOTOMD300-M被动隔振系统安装应用图